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분광광도계(Spectrophotometer)
자동 마이크로 영역 필름 두께 분석기
XRF EDX2000A 제품개요(Summary)
EDX2000A 자동 마이크로 영역 필름 두께 분석기는 Drawell社에서 특별히 개발한 최상급 조명 막 두께 테스터로, 다년간의 박막 두께 측정 기술을 가장 잘 보여주는 제품입니다.
타사의 기존 코팅 두께 분석기와 비교하면, EDX2000A는 기존의 도금에서 더욱 우수하고 뛰어난 성능을 발휘할 뿐만 아니라, 반도체, 칩 및 PCB 등 비접촉 마이크로 영역에서 코팅 두께 테스트의 요구 사항을 더 잘 충족시킵니다.
또한, EDX2000A는 우아한 외관과 간단한 터치로 구성되어 있습니다. X, Y 및 Z 축을 따라 플랫폼의 자동 3차원 이동, Dual laser positioning 및 Security protection system이 갖춰져 있고 다양한 평면, 오목하면서 볼록한, 모서리와 둥근 표면 등의 단순하면서 복잡한 샘플을 신속하고 정확하게 Focusing 및 Analysis을 실현할 수 있습니다.
XRF EDX2000A 특징
1. 상단 조명 설계로 특수한 형태의 마이크로 샘플을 감지할 때 더 많은 적응성 제공합니다.
2. 기존제품 및 타사제품에 비해 새로운 광학 경로와 더 짧은 광학 통로로 신호 수집 효율이 2배 이상 향상됩니다.
3. 거리 보정 시스템이 결합된 가변 초점 고정밀 카메라는 마이크로 제품 뿐만 아니라 깊은 홈과 납작한 샘플에 대한 검출 요구사항을 충족합니다.
4. 프로그래밍 가능한 멀티포인트 감지가 지원되어 여러 샘플의 멀티포인트 감지를 자동으로 완료할 수 있어 샘플 분석의 효율성이 크게 향상됩니다.
5. 내장된 데이터 보정 시스템이 있어 갑작스러운 데이터 변경에 걱정할 필요가 없습니다.
